從低相位差（2nm）到高相位差（20000nm）高精度測量的寬范圍測量，偏光測定裝置可實現高精度定向和長期穩定性測量。日常維護，減少消耗品，使用標準的LED光源，無需更換光源，通用樣品架，可選夾具。
 

　　偏光測定裝置在對液晶顯示元件的取向膜或視角補償膜的取向膜進行取向處理時，以預定波長的偏振光照射被照射體。這種取向處理方法稱為為了進行大范圍的取向處理，需要長的偏光元件，但是難以制造長的偏光元件，因此，使用排列成一直線的多個偏光元件進行取向處理。但是，在使用多個偏光元件的情況下，由于設置誤差等，有可能產生向被照射體照射的偏光的偏光方向的偏光的問題，因此提出了一種將檢偏器稱為檢偏器的技術。用于測量偏振光的偏振方向的不均勻度和偏振方向根據測量結果進行調整。在此，在使用光取向法的情況下，優選還測定照射到被照射體的偏振光的量。

　　在偏光測定裝置測量時，如果安裝了檢偏器，則無法準確測量偏振光量。因此，在測量偏振光的偏振方向時，操作員將檢偏器安裝到檢測單元上，并且在測量偏振光的光量時，操作員將檢偏器從檢測單元上取下。然而，如果操作者安裝和拆卸檢偏器，則在測量偏振光的偏振方向時，存在由安裝誤差引起的測量誤差的擔憂。另外，為了測量偏振方向，已經提出了使用具有線性體的延伸方向（透射軸的角度）不同的多種類型的檢偏器的技術。然而，如果使用多種類型的檢偏器，則偏振光測量裝置的尺寸或成本將增加。另外，由于偏振方向的測量精度取決于檢偏器的種類，因此存在無法進行高精度的測量的擔憂。因此，期望開發一種能夠準確地測量偏振光的偏振方向和偏振光量的技術。